Matériaux
Nanocristaux de silicium en MEB :
Détection automatique de nanocristaux de silicium (matériaux polycristallins,
de quelques nanomètres de rayon) déposés sur substrats de nitrure de silicium (SiO2).
Microscopie électronique à balayage.
Référence :
"Journal of Crystal Growth 209 (2000) 1004-1008 : Priority communication
Silicon quantum dot nucleation on Si3N4, SiO2 and SiOxNy
substrates for nanoelectronic devices" (T. Baron, F. Martin, P. Mur, C. Wyon, M. Dupuy)
Démonstration
Chevauchement de particules :
Détection automatique des particules qui se chevauchent en analysant leur
enveloppe convexe.
Démonstration
Analyse d'un bloc de béton en 3D (nécessite le jeton 3D).
Démonstration.
Analyse d'un défaut de dépôt :
Analyse d'un défaut de dépôt de matière sur le bord d'un wafer.
Démonstration
Détection de traits horizontaux et verticaux et analyse de leur longueur.
Démonstration
Détection d'éléments sombres et mesure de leur taille.
Démonstration
Détermine l'orientation des fibres dans différentes zones de l'image.
Démonstration.
Analyse suite à traitement au LASER :
Analyse d'un matériau ayant subi un traitement au LASER.
Démonstration
Détection des granules jaunes parmi des granules blancs.
Démonstration
Détection d'un maillage et analyse de celui-ci: taux de porosité...
Démonstration
Particule de pollution :
Détection, analyse et classification de particules de pollution.
Démonstration
Détection d'une fibre de porcelaine :
Analyse de la structure d'une fibre de porcelaine en identifiant les
inclusion et les bulles.
Démonstration
Dépôt de pollution :
Calcul par approximation polygonale des caractéristiques d'un dépôt de
pollution sur un polymère.
Démonstration.
